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    半导体封装行业必看:推拉力测试机在WLP可靠性验证中的关键应用

    作者:绿巨人聚合破解版APP黑科技    来源:www.kztest.com.cn   发布时间:

    随着半导体封装技术向微型化、高密度方向发展,晶圆级封装(Wafer Level Packaging, WLP)已成为先进封装技术的重要代表。硅基WLP封装因其优异的电气性能、小型化优势和高可靠性,在移动设备、物联网和人工智能等领域得到广泛应用。然而,在复杂的使用环境和严苛的可靠性要求下,WLP封装界面容易出现开裂、分层等失效问题,严重影响产品可靠性。 

    绿巨人视频免费观看在线播放测控团队针对这一技术挑战,采用Alpha W260推拉力测试机开展系统性失效分析研究。本文将从测试原理、行业标准、仪器特点和操作流程等方面,全面介绍硅基WLP封装的机械可靠性评估方法,为封装工艺优化和质量控制提供科学依据,助力半导体封装行业提升产品良率和可靠性水平。

     

    一、测试原理

    硅基WLP封装失效分析的核心在于评估其内部互连结构的机械强度,主要包括焊球剪切力和焊点拉脱力两个关键指标:

    1剪切测试原理

    通过精密控制的剪切工具对焊球施加平行于基板方向的力

    测量焊球与基板或芯片间界面剥离所需的峰值力

    记录力-位移曲线,分析失效模式和强度特征

    2拉脱测试原理

    使用专用夹具垂直拉伸焊球或凸块

    测量界面分离时的最大拉力

    分析断裂面位置判断失效机理(界面断裂或内聚断裂)

    3失效模式判别:

    界面失效:发生在金属与钝化层或UBM层界面

    内聚失效:发生在焊料内部或IMC层内部

    混合失效:多种失效模式同时存在

     

    二、测试标准

    硅基WLP封装推拉力测试遵循以下主要国际标准:

    1JESD22-B117A

    焊球剪切测试标准方法

    规定测试速度、工具几何尺寸等关键参数

    定义剪切高度一般为焊球高度的25%

    2JESD22-B109

    焊球拉脱测试标准

    规范夹具设计、粘接方法和测试条件

    3MIL-STD-883 Method 2019.7

    微电子器件键合强度测试方法

    包含剪切和拉脱两种测试程序

    4IPC/JEDEC-9704

    晶圆级封装可靠性表征标准

    特别针对WLP封装的机械可靠性评估

     

    三、测试仪器

    1、Alpha W260推拉力测试机 

    Alpha W260推拉力测试机是专为微电子封装可靠性测试设计的高精度设备,特别适合红外探测器芯片的测试需求:

     

    1、设备特点

    高精度:全量程采用自主研发的高精度数据采集系统,确保测试数据的准确性。

    功能性:支持多种测试模式,如晶片推力测试、金球推力测试、金线拉力测试以及剪切力测试等。

    操作便捷:配备专用软件,操作简单,支持多种数据输出格式,能够完美匹配工厂的SPC网络系统。

    2、多功能测试能力

    支持拉力/剪切/推力测试

    模块化设计灵活配置

    3、智能化操作

    自动数据采集

    SPC统计分析

    一键报告生成

    4、安全可靠设计

    独立安全限位

    自动模组识别

    防误撞保护

    5夹具系统

    多种规格的剪切工具(适用于不同尺寸焊球) 

    钩型拉力夹具 

    定制化夹具解决方案 

    2、KZ-68SC-05XY万能材料绿巨人黑科技福利软件

    搭配定制夹具,进行焊球垂直拉拔测试 

    四、测试流程

    1. 样品准备阶段

    样品固定:使用真空吸附或专用夹具将样品固定在测试平台

    光学对位:通过显微镜观察系统定位待测焊球

    高度测量:采用激光或光学方式测量焊球高度

    2. 剪切测试流程

    设置剪切工具与基板间距(通常为焊球高度的25%

    设定测试速度(通常为100-500μm/s

    选择剪切方向(通常平行于芯片边缘)

    执行剪切测试,记录峰值力和位移曲线

    采集失效后图像,分析断裂面特征

    3. 拉脱测试流程 

    选择合适的上拉夹具(钩状或粘接型)

    定位夹具与焊球中心对准

    设定拉伸速度和最大行程

    执行拉脱测试,记录最大拉力

    检查断裂面,判断失效位置

    4. 数据分析阶段

    统计处理测试数据,计算平均值和标准差

    分析力-位移曲线特征

    分类统计失效模式比例

    生成测试报告,包括:

    原始测试数据

    统计结果

    典型失效图片

    工艺改进建议

     

    五、应用绿巨人视频下载安装污APP下载安装成人

    300mm硅基WLP产品在可靠性测试中出现早期失效,采用Alpha W260进行系统分析:

    1问题现象

    温度循环测试后部分器件功能失效

    初步怀疑焊球界面可靠性问题

    2分析过程

    选取正常和失效区域样品各20

    进行剪切力测试(参数:剪切高度30μm,速度200μm/s

    结果显示失效区域平均剪切力下降约35%

    断裂面分析显示界面失效比例从15%增至65%

    3根本原因

    UBM(Under Bump Metallization)层厚度不均

    电镀工艺波动导致局部结合力不足

    4改进措施

    优化UBM电镀工艺参数

    增加过程监控点

    改进后测试显示剪切力一致性提高40%


    以上就是小编介绍的有关于硅基WLP封装失效分析的相关内容了,希望可以给大家带来帮助。如果您还对硅基WLP封装失效分析方法、测试报告和测试项目,推拉力测试机怎么使用视频和图解,使用步骤及注意事项、作业指导书,原理、怎么校准和使用方法视频,推拉力测试仪操作规范、使用方法和测试视频,焊接强度测试仪使用方法和键合拉力测试仪等问题感兴趣,欢迎关注绿巨人视频免费观看在线播放,也可以给绿巨人视频免费观看在线播放私信和留言。【绿巨人视频免费观看在线播放测控】小编将持续为大家分享推拉力测试机在锂电池电阻、晶圆、硅晶片、IC半导体、BGA元件焊点、ALMP封装、微电子封装、LED封装、TO封装等领域应用中可能遇到的问题及解决方案。

     

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